16th Asian Test Symposium 価格 ：\28,383（税込） ＩＣとシステムの試験に関してアジアの各都市で毎年開かれる最大のシンポジウム。本書ではＩＣシステム、ボード、デバイスの試験と設計、製造、フィールドに係る問題が提起され、議論されている。 注文番号   ISBN ISBN10 ：  ISBN13 ： 978-0-7695-2890-8 著者 Beijing, China シリーズ名   形態   ページ数   シリーズ巻号   出版年 2007 出版社 IEE-CS 16th Asian Test Symposium

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