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Scanning Probe Microscopy: Electrical and Electromechanical Phenomena at the Nanoscale: Fundamentals and Applications (2 Volume Set) |
| 価格 ： ￥55,272（税込） |
| 本書は走査型プローブ顕微鏡(ＳＰＭ)によるナノスケールにおける電気的および電気機械的特性測定についての書です。2冊本で980ページ、基本的物理からデバイスの特性、故障解析、ナノファブリケーションまでの先端的ＳＰＭ技術の実践的、理論的問題を解説しています。第1巻では、ＳＴＰ（走査型トンネル電位差測定装置）から電気化学的ＳＰＭまでのＳＰＭの技術的側面と、ＳＰＭ画像メカニズムの基本的物理現象について、第2巻では、半導体や強磁性体、誘電体、ポリマー、カーボンナノチューブ、生体分子など広範囲な材料のＳＰＭを用いた特性研究、ＳＰＭを使ったナノファブリケーションとナノリトグラフィーへの研究など実用面を中心に解説しています。 |
| 注文番号 |
A-62008 |
| ISBN |
ISBN10 ： 0-387-28667-5
ISBN13 ： 978-0-387-28667-9 |
| 著者 |
"Kalinin, S. Gruverman, A. " |
| シリーズ名 |
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| 形態 |
Hardcover |
ページ数 |
980 |
シリーズ巻号 |
2 vols. |
| 出版年 |
2006 |
出版社 |
Springer NY |
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Scanning Probe Microscopy: Electrical and Electromechanical Phenomena at the Nanoscale: Fundamentals and Applications (2 Volume Set) |
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