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Introduction to Scanning Tunneling Microscopy, 2nd Ed. |
| 価格 ： ￥14,332（税込） |
トンネル電流から物質表面の原子レベルの電子状態や構造を観察する走査型トンネル顕微鏡と原子力間顕微鏡の発明は1986年ノーベル物理学賞に輝き、今日のナノテクノロジーに道を開いた。本書の初版は1993年以来数多くのエキスパートとビギナーを育てたが、今回の完全改訂版では、多くの新開発を含カバーした。非接触原子間力顕微鏡は、真の原子分解を証明し、個々の化学結合の直接観測とマッピングを可能にしている。原子間力顕微鏡の章は今回拡げられ、磁場の計測を可能にしたスピン偏極STM（走査型トンネル顕微鏡）、非弾性ＳＴＭ、原理と新測定法など種々の興味ある内容をカバーしている。当分野のバイブルとして9月に刊行される予定である。
第2版の特徴：
・Updated version of successful and well respected book.
・Only book about scanning tunneling microscopy and atomic force microscopy that provides an integrated treatment of both theory and experiment (instrumentation).
・Provides a good introduction for newcomers.
・Includes valuable material and hints for the experts
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| 注文番号 |
A-72912 |
| ISBN |
ISBN10 ： 0-19-921150-7
ISBN13 ： 978-0-19-921150-0 |
| 著者 |
"Chen, C.J. " |
| シリーズ名 |
Monographs on the Physics and Chemistry of Materials-64 |
| 形態 |
Hardcover |
ページ数 |
488 |
シリーズ巻号 |
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| 出版年 |
2007 |
出版社 |
Oxford U.P. |
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Introduction to Scanning Tunneling Microscopy, 2nd Ed. |
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